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高k前驱体材料发展研究
来源: | 作者:pro60c309 | 发布时间: 2016-10-31 | 5244 次浏览 | 分享到:

现代社会已进入信息时代,以集成电路为代表的微电子技术是信息产业的核心与基础,预计2020年,世界信息产业将达到6万亿美元的规模。最近的统计表明,我国虽然已成为全球最大的地区性集成电路市场,但由于缺少具有自主知识产权的关键材料与核心技术,这已成为制约我国集成电路产业发展的瓶颈。


图1. 国际半导体技术发展蓝图(itrs)

   自微电子集成电路技术诞生以来,一直遵循着摩尔定律的规律发展。根据
国际半导体技术发展路线图international technology roadmap for semiconductors, itrs)预测(见图1),45纳米技术代以下,主流金属-氧化物-半导体场效应晶体管(metal-oxide-semiconductormosfet)器件的等效氧化物栅介质层厚度(equivalent oxide thickness,eot)将小于1纳米。传统的多晶硅/sio2sion/si结构,则由于显著的量子直接隧穿效应和多晶硅耗尽效应,器件性能急剧恶化。为此,引入新型的高介电常数(k)栅介质和金属栅材料成为集成电路可持续发展的必然选择。而新型的半导体衬底-高迁移率的沟道材料也成为一条制备高性能新型cmoscomplementary metal oxide semiconductor)器件富有吸引力的途径。

按照itrs预测,集成电路的高速发展至少将持续到2020年,2013年,集成电路进入32纳米技术代,2016年将进入22纳米技术代。每个技术代对集成电路的关键材料都有特定的需求。目前,intel已经在量产的45nm技术中,引入了高k材料/金属栅技术,其中高k栅介质采用的是原子层沉积技术制备的铪(hf)基氧化物材料。

原子层沉积技术(atomic layer deposition, ald), 是一种可对膜厚进行近似亚单层(sub-monolayer)精确控制的化学气相沉积技术,自从2001itrsald列入与微电子工艺兼容的候选技术以来,其发展势头强劲,这与它独特的自限制(self-limiting)生长原理密不可分,具有优异的三维贴合性(conformality)、大面积的均匀性、低的沉积温度(rt- 400 oc)、适合界面修饰等特点,在深亚微米集成电路用高k材料等的制备上显示出巨大的应用前景。

目前,在高k材料及其制备技术领域,我国拥有自主知识产权的材料与技术严重不足,这将极大妨碍我国集成电路跨越式发展战略目标的实现。因此,亟需开展极大规模集成电路用高k关键材料技术方面的研究工作。


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